AI 驅動量測系統

AI 驅動量測系統是一套專為MicroLED與MicroVCSEL製造商打造的量測解決方案，本系統能有效突破傳統量測限制。在微型顯示技術與光通訊產業的發展中，製程良率與生產效率是決定市場競爭力的關鍵指標。RVi推出的AI 驅動量測系統，導入先進人工智慧演算法，旨在突破傳統量測技術的限制，為製造商提供兼具成本效益與高精度的智慧製造解決方案。

RVi AI 驅動量測系統之核心優勢

傳統高階量測，如電致發光（Electroluminescence，簡稱EL）或交流電(AC)測試流程上，往往面臨耗時且設備投資龐大的挑戰。本系統針對此一痛點，提供以下三大核心技術優勢：

1. 顯著提升生產成本效益：以低成本量測推導高階數據

透過訓練完善的 AI 模型，本系統具備從較低成本且快速的光致發光(Photoluminescence，簡稱PL)或直流電(DC)測試數據，精確預測高階EL或AC測試結果的能力。

• 大幅降低對高昂且耗時之高階測試設備的依賴，從而有效降低整體生產成本，並顯著縮短生產週期。

• 百分之百全檢晶粒光性並利用AI演算法完全精準預測每顆晶粒的光電特性。

• 有別於倚賴點測機的接觸性抽樣檢測而可能造成的晶粒毀損，AI演算法透過PL進行整片晶片個晶粒進行非接觸性檢測，在檢測過程中完全不會破壞晶粒造成損失。

傳統MicroLED檢測製程:

RVi AI驅動量測系統:

2. 優化量測精度：自動校正系統偏差與雜訊

量測設備於實務運作中，難免產生數據偏差與雜訊。本系統內建之人工智慧模型不僅具備數據預測能力，更能主動識別並校正前述數據異常。

• 確保提供至後續製程之數據具備高度精確性與可靠性，進而全面提升最終產品之良率與品質穩定性。

  RVi模型 使用PL資料預測EL波長

  RVi模型使用PL資料預測EL發光強度